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產(chǎn)品列表PRODUCTS LIST

  • 3555電池測(cè)試儀產(chǎn)品概述 立即測(cè)定電池劣化情況:小型二次電池用 ● 通過(guò)對(duì)電池的內(nèi)電阻和內(nèi)電壓的測(cè)量 ● 以合格(pass),警告(warning)及不合格(fail)三段指示 ● 使本系列產(chǎn)品能夠立即得到電池狀態(tài)的結(jié)果

  • IM7587阻抗分析儀產(chǎn)品概述 可信賴的機(jī)型3GHz ● 測(cè)試電壓測(cè)量頻率:1MHz~3GHz ● 測(cè)量時(shí)間:較快0.5ms(模擬測(cè)量時(shí)間) ● 測(cè)量值偏差:0.07%(測(cè)量頻率1GHz時(shí)的代表值) ● 基本精度:±0.65% rdg. ● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小,測(cè)試頭尺寸僅手掌大小 ● 豐富的接觸檢查(DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定) ● 分析模式下可以邊掃描測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平邊

  • IM7585阻抗分析儀產(chǎn)品概述 高速、高穩(wěn)定性測(cè)量,提高生產(chǎn)量!測(cè)量時(shí)間:較快0.5ms,測(cè)量值偏差0.07% ● 測(cè)量頻率:1MHz~1.3GHz ● 測(cè)量時(shí)間:較快0.5ms(模擬測(cè)量時(shí)間) ● 測(cè)量值偏差:0.07%(測(cè)量頻率1GHz時(shí)的代表值) ● 基本精度:±0.65% rdg. ● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小,測(cè)試頭僅手掌大小 ● 豐富的接觸檢查功能(DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定)

  • IM7583阻抗分析儀產(chǎn)品概述 高速、高穩(wěn)定性測(cè)量,提高生產(chǎn)量!測(cè)量時(shí)間:較快0.5ms ● 測(cè)量頻率:1MHz~600MHz ● 測(cè)量時(shí)間:較快0.5ms(模擬測(cè)量時(shí)間) ● 基本精度:±0.65% rdg. ● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小,測(cè)試頭僅手掌大小 ● 豐富的接觸檢查功能(DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定) ● 使用分析功能在掃描測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量

  • IM7581阻抗分析儀產(chǎn)品概述 較快0.5ms,覆蓋100kHz~300MHz的低頻 ● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小、測(cè)試頭僅手掌大小 ● 豐富的接觸檢查功能(DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定) ● 使用分析功能在掃描測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量

  • IM7580A阻抗分析儀產(chǎn)品概述 較快0.5ms,高速、高穩(wěn)定測(cè)量,節(jié)省空間的半個(gè)機(jī)架大小 ● 測(cè)量頻率1MHz~300MHz ● 測(cè)量時(shí)間:較快0.5ms ● 基本精度±0.72%rdg. ● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小、測(cè)試頭僅手掌大小 ● 豐富的接觸檢查功能(DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定) ● 使用分析功能在掃描測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量

  • IM3590化學(xué)阻抗分析儀產(chǎn)品概述 用于測(cè)量電氣化學(xué)零件和材料/電池/EDLC(電氣雙層電容) ● 適用于離子運(yùn)動(dòng)和溶液電阻測(cè)量,1mHz ~ 200kHz的寬范圍信號(hào)源 ● 1臺(tái)機(jī)器即可實(shí)現(xiàn)LCR測(cè)量、掃描測(cè)量的連續(xù)測(cè)量和高速檢查 ● 可測(cè)量電池的無(wú)負(fù)載狀態(tài)產(chǎn)生的內(nèi)部電阻 ● 較快2ms的高速測(cè)量,實(shí)現(xiàn)掃描測(cè)量的高速化 ● 基本精度±0.05%,零件檢查到研究開(kāi)發(fā)測(cè)量均可對(duì)應(yīng)

  • IM3570阻抗分析儀產(chǎn)品概述 1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)不同測(cè)量條件下的高速檢查 ● 1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)LCR測(cè)量、DCR測(cè)量、掃描測(cè)量等的連續(xù)測(cè)量和高速檢查 ● LCR模式下較快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速測(cè)量 ● 基本精度±0.08%的高精度測(cè)量 ● 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測(cè)量,電感器(線圈、變壓器)的DCR和L-Q的測(cè)量

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